超声波膜厚计
简要描述:LU-200J超声波膜厚计
产品型号: LU-200J超声波膜厚计
所属分类:膜厚计
更新时间:2024-08-14
详细说明:
测定方法 | 超声波反射式 | 测定对象 | 树脂、玻璃、金属等基体上的涂镀层 | 测定范围 | 10~700um | 测定精度 | <50um±2um >50um±4% | 分辨率 | 1um | 统计功能 | 测试数/标准偏差 zui大值/zui小值/平均值 | |
信号输出 | RS232标准接口 | 显示方式 | LCD数显 | 操作面板 | 密封防水按键 | 附属品 | 铁基体/校正标准片/测头/电池曲面支架/皮套/说明书 | 电源 | 5#碱性电池×6个 | 体积 | 本机120(W)×250(D)×55(H) 测头¢63×85(H) | 重量 | 本机800g 测头220g | |